日本進(jìn)口TOPCON拓普康二維光譜輻射計SR-5100

日本進(jìn)口TOPCON拓普康二維光譜輻射計SR-5100

SR-5100是一款 2D 光譜輻射計，其性能與傳統(tǒng)點測量光譜輻射計相當(dāng)。 使用可追蹤光源來校準(zhǔn)設(shè)備，確保高精度的亮度和色度精度。 對170億cd/m2、500萬光譜特性下光源的波長特性、材料的光譜透過特性、物體的光譜反射特性等光源和物體特性進(jìn)行無損、非接觸評價1 nm 增量是一種光學(xué)測量儀器，有助于保持各種產(chǎn)品的高質(zhì)量。 通過分析物體的光譜，2D光譜輻射計SR-5100可用于評估和模擬物體的反射光，以及難以用人眼或濾光片式二元分析儀評估的特性和發(fā)光產(chǎn)品。可用于三維亮度計的評估。 可用于廣泛的行業(yè)和應(yīng)用，包括發(fā)展速度加快的Micro/Mini LED顯示屏、零部件相關(guān)、材料質(zhì)感、皮膚護(hù)理、紡織染色和面料、景觀等。