CHINO千野用于半導體紅外測溫儀 IR-CAU

CHINO千野用于半導體紅外測溫儀 IR-CAU

有低溫、中高溫、高性能型、超寬型等通用型17種型號，可用于各種領域的非接觸式溫度測量。

半導體和砷化鎵晶片的溫度測量

一種可以測量砷化鎵晶片溫度為 400°C~1000°C 的輻射測溫儀。 使用使晶圓不透明的測量波長來減少加熱器對背面的指示影響。

其他功能

內置數字溫度顯示、參數設置功能、可由主機操作的集成結構

高精度、快速響應、高可靠性

通信接口 RS-485 （MODBUS） 作為選件提供。

設置顯示可用于遠程監視 IR-CA 和遠程設置遠程設置。

可以通過 RS-485 通信進行設置和顯示。

提供數據記錄軟件。

根據安裝環境，可提供保護套和水冷板等附件。

型用于半導體、鎵和砷化物 

格式IR-CAU 

傳感元件四 

測量波長0.6~0.9微米 

測量溫度范圍400~800°C（100）

500~1000°C（200°C） 

精度等級低于 600°C： ±3°C 高于

600°C： 測量值的 ±0.5% 

再現性0.5°C 以內 

分辨率0.5°C 

響應時間0.04 秒（95%） 

測量直徑 / 測量距離可移動焦

距測量距離：0.5m ~ ∞

測量直徑 = 測量距離 / 距離系數

距離系數：100,200 

目的Direct View Finder 

輸出信號4~20mA DC，隔離輸出（無電阻 500Ω 或更低） 

通信接口RS-485（可選） 

權力24V 直流 

功耗高達 10VA 

外形尺寸寬150 x 高 110 x 深 66 毫米 

質量約 1.3 千克 

其他數據處理軟件：IR-VXC1