Photonic Lattice  應(yīng)力測量儀  快照成像

Photonic Lattice  應(yīng)力測量儀  快照成像

專門針對大相位差、高殘余應(yīng)力透明樣品，實驗室臺式光學檢測設(shè)備，不是工業(yè)現(xiàn)場在線傳感器。

核心硬件與性能

測量原理：光子晶體偏振陣列，無旋轉(zhuǎn)偏振片，無運動部件；三波長交叉運算消除相位差纏繞，實現(xiàn) 0?3500nm 超大相位差量程

性能指標

相位差重復(fù)精度：σ＜0.1?nm；光軸方位精度 σ＜0.1°

傳感器像素：848×680（57 萬像素），分辨率較 WPA?200 提升 5 倍

測量時間：數(shù)秒完成一整個視場二維成像，不是單點掃描

光源：523nm /543nm /575nm 三波長可見光

軟件：WPA?View，支持點 / 線 / 面分析、云圖導出、報表輸出、遠程控制接口

可選配件：變焦鏡頭、遮光罩、電動位移臺、應(yīng)力換算模塊、遠程控制功能。

應(yīng)用場景

1. 光學注塑件：VR/AR 樹脂鏡片、導光板、汽車儀表透明面板，注塑殘余應(yīng)力評價，優(yōu)化注塑工藝參數(shù)。

2. 高分子厚板材：PC、PMMA 厚板、厚光學膠片，成型、冷卻后的雙折射與殘余應(yīng)力檢測。

3. 光學元件：厚透鏡、光學樹脂部件，評估脫模應(yīng)力、翹曲誘因。

4. 材料研發(fā)：高分子改性、流變實驗，觀察材料內(nèi)部應(yīng)力分布。

5. 品質(zhì)管控：來料、成品抽檢，對比不同工藝批次應(yīng)力云圖，判定產(chǎn)品良率。