MITUTOYO三豐  白光干涉測量儀  開放 SDK

MITUTOYO三豐  白光干涉測量儀  開放 SDK

臺式一體式超高精度低測力測厚 / 高度測量儀，屬于三豐 Litematic 系列精密接觸式量儀，主打軟質、超薄、易壓傷變形工件的厚度、臺階、高度、跳動檢測，區別于普通高度規、普通測微儀。

優勢特點

1. 0.01N（1gf）超低恒定測力輕柔接觸，幾乎不會壓薄、壓傷薄膜、光學鏡片、軟膠、晶圓；同系列還有 0.15N /1N 出廠可選版本，測力固定出廠標定，不可現場自行切換。

2. 超高分辨率與精度分辨率 0.01/0.1/1μm 三檔切換；測量行程 0~50mm；精度 (0.5+L/100)μm，L 單位 mm；重復精度 0.02μm 以內；光柵線性編碼器，讀數穩定。

3. 電動主軸，自動觸停電機驅動測桿下行，測頭碰到工件立即停止，恒定測力采集；支持最大值 / 最小值 / 振幅（跳動）測量，適合翹曲件、薄片波動檢測。

4. 溫穩結構設計測桿采用低膨脹特種材料，工作臺為陶瓷臺面，防銹、低熱形變，降低環境溫度帶來的測量誤差，維護簡單。

5. 數據輸出能力RS232 接口，搭配 VLink / SensorPak 軟件，電腦采集、SPC 統計、公差判定，可接腳踏開關實現快速批量檢測。

6. 一體式整機主機 + 顯示面板一體，無需單獨搭配計數器；對比分體 VL-50S-B，適合質檢室、離線抽檢，不用集成設備機架。

應用場景

• 光學行業（你前面關注的物鏡 / 鏡片配套檢測）：光學鏡片、濾光片、透鏡基底厚度、臺階差，防止測頭壓傷光學鍍膜

• 薄膜 / 功能膜：光學膜、PET 薄膜、軟基材厚度測量

• 半導體：硅片、引線框架厚度、翹曲高度檢測

• 塑膠 / 橡膠：硅膠墊片、薄膜按鍵、軟塑料件，避免壓入形變導致厚度測不準

• 醫療耗材：薄型醫用膜、墊片、注射器零部件

• 精密電子：薄金屬彈片、PCB 薄板、電池極片厚度、微小臺階高度、平面跳動檢測