
產品簡介
ZEISS蔡司 X射線系統 可溯源計量 CT**蔡司計量級工業 CT(第三代),METROTOM 系列中大尺寸主力機型**,屬于無損體積測量設備,區別于傳統三坐標(只能測外表面)。可同時完成**內部缺陷檢測 + 內外全尺寸計量**,符合 VDI/VDE 2630 計量 CT 標準,測量結果可溯源。
ZEISS蔡司 X射線系統 可溯源計量 CT
ZEISS蔡司 X射線系統 可溯源計量 CT
**蔡司計量級工業 CT(第三代),METROTOM 系列中大尺寸主力機型**,屬于無損體積測量設備,區別于傳統三坐標(只能測外表面)。
可同時完成**內部缺陷檢測 + 內外全尺寸計量**,符合 VDI/VDE 2630 計量 CT 標準,測量結果可溯源。
可溯源計量 CT,精度合規遵循 VDI/VDE 2630 規范,MPE (SD)=4.5+L/50 μm,不只是看缺陷,還可以直接做 GD&T 尺寸、形位公差評定,出具計量級報告,滿足客戶體系審核。
scatterControl 散射抑制硬件模塊有效減少 X 射線散射偽影,多材料、金屬 / 塑料復合件圖像質量大幅提升,內部孔隙、裂紋、壁厚測量更穩定;搭配 AMMAR、BHC 圖像優化算法。
柔性 500W X 射線管焦點可調,小零件用微焦點做超高分辨;中大件采用大功率提升掃描效率,大小工件一機兼容。搭載 3k 探測器,體素分辨率更高,微小內部缺陷更容易識別。
無損一體掃描,內外共測一次掃描同時獲得外輪廓、內部型腔、壁厚、氣孔、裂紋、夾雜;無需剖切、無需拆件,解決傳統方法破壞性檢測、內部結構無法測量的痛點。
軟件生態互通配套 ZEISS INSPECT;支持 CALYPSO、PiWeb,和蔡司 CMM 測量程序、質量平臺打通,數據統一管理,企業質量平臺無縫對接。
緊湊艙體設計可裝入高度 870mm 工件,整機占地??;前門大開式艙門,裝件與設備維護便捷,安裝布局靈活。
汽車行業:鋁壓鑄殼體、電機定子殼、氣缸蓋、塑料進氣件,檢測內部氣孔縮孔、壁厚分析、型腔尺寸、裝配間隙。
增材制造(3D 打印):金屬 / 塑料打印件,內部孔隙、未熔合缺陷、晶格結構、型面比對。
航空航天:鈦合金、復合材料葉片,內部缺陷檢測、壁厚、內腔幾何驗證。
醫療器械:植入件、吸入器、注射器,內部流道、壁厚、裝配結構無損檢測。
精密電子:電池組件、連接器、PCB 組件,內部封裝結構、間隙、缺陷檢測。