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技術講座｜SERIC 索萊克 XG?500AF 濾紅外光源解決哪些測試難題？
2026-08-26 2026?08?22在近期行業技術講座活動中，SERIC索萊克圍繞熱干擾影響測試結果的行業痛點，重點解讀XG?500AF濾紅外人工太陽燈的實際應用價值，為色彩校驗、樣品檢測、材料評估等場景提供新的光源選型思路。常規人工太陽燈包含大量紅外波段，照射樣品時會伴隨明顯熱效應，容易造成試樣升溫變形、受熱變色，干擾色彩比對與材料性能判定，部分熱敏樣品甚至無法開展長時間光照試驗。XG?500AF搭載專用紅外截止濾光組件，在還原正午太陽光可見光與紫外光譜的基礎上，大幅削減紅外熱輻射輸出，降...喜報｜SERIC 索萊克 XIM?3B300KP 太陽光模擬器成功中標實驗室項目
2026-08-26 喜報｜SERIC索萊克XIM?3B300KP太陽光模擬器成功中標實驗室項目2026?08?22近日，SERIC索萊克XIM?3B300KP平行光束太陽光模擬器順利中標國內科研實驗室采購項目，本次中標是該機型在國內科研領域又一重要落地，將為車載光學器件、光敏傳感器相關研究提供標準化日光模擬試驗條件。XIM?3B300KP為AAA級平行光束太陽光模擬器，搭載3000W氙燈光源，光斑有效照射面積300×300mm，光束平行度可達±3°，完整覆蓋300?2500nm光譜...TORAY 東麗推出新一代微量氧分析儀，ppb 級檢測再突破
2026-08-21 2026?08?19近期，TORAY東麗工程發布新一代微量氧分析儀，進一步把痕量氧氣檢測能力拓展至ppb級別，為半導體、新能源、高純氣體等精密制程提供更高水準的氧含量監測手段，補齊超低氧環境管控的設備需求。新一代分析儀沿用成熟氧化鋯傳感技術，對傳感器涂層、信號處理模塊進行升級優化，降低基線漂移，實現ppb級微量氧穩定檢測，同時兼顧ppm至100%VOL的寬量程覆蓋，兼顧超低痕量檢測與常規工況測量需求。設備響應速度更快，可快速捕捉腔體內部氧含量的微小波動，幫助生產端及時發現微量...一臺頂兩臺？COSMO科斯莫LS-R912切換式氣密測試儀正式發布
2026-08-13 日期：2026年7月30日（星期四）導語：同一產線要測不同壓力規格的工件，就得配多臺設備或頻繁換型？7月30日，COSMO（科斯莫計器）正式發布LS-R912切換式氣密測試儀。該機型通過內置雙測試壓力回路自動切換系統，實現單臺設備兼容兩種不同壓力規格的檢測需求，被業內稱為“一臺頂兩臺"的效率利器。正文：LS-R912的核心升級在于其雙回路獨立控制架構。設備內置兩個獨立的測試壓力回路（入口A/入口B），用戶可根據產線實際需求，從中壓（MR）、低壓（LR）、真空（VR）及4.9M...全新迭代！杉山 PS 系列檢測裝置，強化沖壓產線數據采集能力
2026-08-13 2026?08?10近日，日本SUGIYAMA杉山電機完成PS系列下死點檢測裝置迭代升級，在原有模具保護、異常停機能力基礎上，重點強化產線數據采集能力，面向高速精密沖壓行業推出更新版本，助力沖壓車間實現設備狀態可視化管理。傳統沖壓監測設備大多只實現異常報警與停機，原始工況數據留存不足，工藝復盤、故障溯源缺少有效數據支撐。本次升級后的PS系列，保留跳屑、疊料、誤送料、下死點偏移檢測功能，可在出現異常時快速輸出停機信號，避免模具損傷與批量不良品產生。新版本擴充數據存儲容量，可保存...精密測控賦能半導體制造，OHKURA 大倉儀表穩定把控晶圓熱處理工藝
2026-08-06 本報訊7月27日，在2026年半導體制造技術交流會上，日本工業測控企業OHKURA（大倉電氣）展出了應用于晶圓熱處理工序的精密溫控與數據記錄解決方案。作為深耕溫度控制領域近90年的專業廠商，OHKURA的EC系列程序調節器與VM系列無紙記錄儀已在國內多家頭部晶圓廠的前道制程中實現長期穩定運行。當前，半導體制造對晶圓熱處理環節的工藝一致性要求日益提升。針對這一需求，OHKURA重點推出以EC5900R程序調節器為核心的控制方案。該產品采用多PID分區算法，可針對爐體不同溫區進行...光源選型一站式對接 AITEC 艾泰克展會開放技術洽談、樣機實測服務
2026-07-31 近日，日本專業工業視覺光源品牌AITEC艾泰克確認參展VisionChina2026中國國際機器視覺展覽會，完整展出環形、線性線掃、同軸落射、圓頂漫射、UV紫外五大系列LED光源，搭配LPAC恒流、LPAP脈沖頻閃全套點燈電源，面向視覺集成商、鋰電、半導體、3C電子、五金制造企業開放現場技術咨詢、樣機成像實測、定制方案對接服務。本次展會核心展出產品LLR系列水冷線性線掃光源專為鋰電隔膜、金屬卷材、PCB大板高速線掃檢測打造，高密度LED陣列搭配分段獨立調光，照度均勻度誤差低于...
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